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環(huán)境可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目與試驗(yàn)方法及要求

日期：2025-04-25 23:58

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摘要：環(huán)境可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目與試驗(yàn)方法及要求

一、安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)

GB/T 2423.1-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T 2123.2-2001電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T 2423.3-1993電工電了產(chǎn)品基木環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

GB/T 2123.22-2002電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)N：溫度變化試驗(yàn)方法

GB/T 6346.14、IEC 60384-14 安規(guī)電容可靠性試驗(yàn)方法

環(huán)境可靠性試驗(yàn)方法及要求

常用設(shè)備：恒溫恒濕試驗(yàn)箱，高低溫試驗(yàn)箱，UV老化試驗(yàn)儀，鹽霧試驗(yàn)箱，熱老化試驗(yàn)箱

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環(huán)境可靠性試驗(yàn)項(xiàng)目與試驗(yàn)方法及要求